一本久道高清无码视频丨精品国产三级在线观看丨日本护士毛茸茸丨人妻熟妇乱又伦精品视频丨丰满的少妇被猛烈进入白浆

<bdo id="qgw6u"></bdo>

<tfoot id="qgw6u"></tfoot>

技術文章您當前的位置：首頁 > 技術文章 > 吉時利KEITHLEY源表測量能力和主要應用

日期：2018-07-11瀏覽：4769次

吉時利KEITHLEY源表在統一自動特征分析套件中、集成測試系統整合各種測試硬件，具有全面而*的測量能力：

·吉時利強大的4200-SCS半導體特征分析系統具有I-V源測量功能和專業脈沖測試工具包，用于先進半導體材料測試的4200-PIV工具包。

·2600系列數字源表測試儀具有TSP-Link和測試腳本處理器(TSP)，可在運行狀態下的NBTI測試或圓片級器件特征分析等應用中實現可擴展的I-V通道系統、高速并行測量和復雜測試序列等功能。

·2400系列數字源表測試儀能夠提供高電壓和高電流源，可用于高功率MOSFET和顯示驅動器測試等領域。

·此外ACS集成測試系統還為用戶提供可選擇的開關、C表和脈沖發生器等附件。

吉時利KEITHLEY源表其中一些主要應用如：

·通用超快I-V測量。脈沖式I-V測試具有很廣泛的應用，它通過使用窄脈沖和/或低占空比脈沖而不是直流信號，能夠防止器件自熱效應。

·CMOS器件特征分析。4225-PMU/4225-RPM的高速電壓源和電流測量靈敏度使得它們非常適合于CMOS器件的特征分析，包括高k器件和先進CMOS工藝，如絕緣體上硅。

·非易失性存儲器測試。系統安裝的KTEI軟件提供了用于閃存和相變存儲器器件測試的工具包。該系統非常適合于單個存儲單元或小規模存儲陣列的測試，例如研發或工藝驗證之類的應用。

·化合物半導體器件與材料的特征分析。能夠對III-V族材料進行特征分析，例如氮化鎵、砷化鎵和其它一些化合物半導體。它允許用戶設置一個脈沖偏移電壓，然后從非零值進行測量，從而研究器件的放大增益或線性度。

·NBTI/PBTI可靠性測試。自動特征分析套件軟件還支持全自動晶圓級和晶匣級測試，內置NBTI/PBTI測試庫，具有簡潔易用的GUI。

在線客服：

<del id="m0wek"></del><strike id="m0wek"><menu id="m0wek"></menu></strike>